X射線熒光光譜儀ROSH檢測儀
HT-E8-SPRX射線熒光光譜儀
X射線熒光光譜儀ROSH檢測儀 HeLeeX E8-SPR是一款高性能能量色散型X射線熒光光譜儀(EDXRF),光路系統(tǒng)、散熱系統(tǒng)、控制系統(tǒng)以及軟件算法,使HeLeeX E8-SPR在測試精密度、準(zhǔn)確度和操作便捷性上超越國內(nèi)外同類產(chǎn)品,其的性能被廣泛的應(yīng)用于RoHS/HF檢測、重金屬檢測、合金成分分析、貴金屬檢測、鍍層測試、土壤成分分析、礦石成分分析等領(lǐng)域,并得到第三方檢測機(jī)構(gòu)、上市企業(yè)以及其他中小型企業(yè)用戶的。
一、應(yīng)用領(lǐng)域:
測試性能:
X射線熒光光譜儀ROSH檢測儀 ? RoHS /ELV無鹵指令(Pb、Cd、Hg、Cr、Br、Cl),檢測范圍:2ppm-99.99%(鹵素檢測范圍:30ppm-90%)測試精度:測試標(biāo)準(zhǔn)樣品EC681M中的鉛(69.7ppm)7次絕對標(biāo)準(zhǔn)偏差小于1.5。;
? 鍍層分析:各種基材鍍Au、Ag、Cu、Ni、Sn、Zn、Cr等檢測范 圍:0.001um-30um,:檢測最外層鍍層厚度為1um左右的鍍層7次相對標(biāo)準(zhǔn)偏差小于5%;
? 合金分析:鋼鐵、銅類等成分分析,檢測元素范圍:Na-U,檢測濃度范圍:50ppm-99.99%。7次測試重復(fù)性:相對標(biāo)準(zhǔn)偏差小于0.1%(含量5%左右)
二、儀器特點(diǎn):
儀器外圍配置
? HeLeeX E8-SPR采用模塊化分體式X射線準(zhǔn)直器技術(shù),根據(jù)用戶需求,可快速配置Φ0.1mm、Φ0.3mm、Φ0.7mm、Φ1.2mm、Φ3mm、Φ5mm、Φ7mm中的任意四種準(zhǔn)直器。滿足樣品中不同大小點(diǎn)測試需求。
1、 儀器特